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O grafeno está sempre suscitando grandes expectativas, como um material forte, ultrafino e bidimensional que também poderá ser a base para novos componentes de tecnologia da informação.
Caracterização de grafeno dispositivos estão em alta demanda. A espectroscopia Raman pode ser usada para fazer isso. A luz do laser é direcionada para a amostra do material, e os fótons espalhados fornecem informações sobre as rotações e vibrações das moléculas nela contidas, bem como a estrutura cristalina.
Em média, apenas cerca de 1 em cada 10 milhões de fotões é espalhado desta forma. Isso não apenas dificulta a detecção da informação correta, mas também é muito lento: pode levar meio segundo para visualizar um único pixel. A questão é se Raman ainda continua sendo a melhor opção ou se existem alternativas melhores. Os pesquisadores da Universidade de Twente (UT), Sachin Nair e Jun Gao, mantêm a espectroscopia Raman como ponto de partida, mas conseguem melhorar drasticamente a velocidade: não alterando a técnica em si, mas adicionando um algoritmo.
Redução de ruído
Este algoritmo não é desconhecido no mundo do processamento de sinais e é denominado Análise de Componentes Principais. É usado para melhorar a relação sinal-ruído. O PCA determina as características do ruído e do sinal 'real'. Quanto maior o conjunto de dados, mais confiável é esse reconhecimento e mais claro o sinal real pode ser distinguido. Além disso, os instrumentos Raman modernos possuem um detector denominado dispositivo de carga acoplada multiplicadora de elétrons (EMCCD) que melhora a relação sinal-ruído. O resultado líquido deste trabalho é que o processamento de um pixel não leva meio segundo, mas apenas 10 milissegundos ou menos. Mapear uma única amostra não leva mais horas. Uma característica importante para materiais vulneráveis como o óxido de grafeno é que a intensidade do laser pode ser reduzida em duas ou três ordens de grandeza. Esses são passos importantes para obter um controle rápido das propriedades dos materiais.
Multiuso
Exceto para o grafeno, a técnica Raman aprimorada também pode ser usada para outros materiais bidimensionais como germaneno, siliceno, dissulfeto de molibdênio, dissulfeto de tungstênio e nitreto de boro. O uso do algoritmo não se limita à espectroscopia Raman; técnicas como a Microscopia de Força Atômica e outras técnicas hiperespectrais também poderiam se beneficiar disso.
A pesquisa foi feita no grupo de Física de Fluidos Complexos do Prof Frieder Mugele, parte do Instituto MESA+ da UT. Os pesquisadores colaboraram com o grupo Medical Cell BioPhysics e o grupo Physics of Interfaces and Nanomaterias, ambos também da Universidade de Twente.
Referência: “Imagem Raman confocal não invasiva e de alta velocidade aprimorada por algoritmo de materiais bidimensionais” por Sachin Nair, Jun Gao, Qirong Yao, Michael HG Duits, Cees Otto e Frieder Mugele, 13 de novembro de 2019, Revisão Nacional de Ciência.
DOI: 10.1093/nsr/nwz177